1. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures
پدیدآورنده : / Andreas Rosenauer
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors, Analysis,Semiconductors, Microscopy,Transmission electron microscopy
رده :
QD139
.
S34
,
R67
2003
2. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures
پدیدآورنده : / Andreas Rosenauer
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Semiconductors- Analysis,Semiconductors- Microscopy,Transmission electron microscopy
رده :
QD139
.
S34
,
R67
2003
3. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures
پدیدآورنده : Andreas Rosenauer
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (طهران)
موضوع : Semiconductors, Analysis,Semiconductors, Microscopy,Transmission electron microscopy
4. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures :
پدیدآورنده : Andreas Rosenauer.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Semiconductors-- Analysis.,Semiconductors-- Microscopy.,Transmission electron microscopy.,33.68 surfaces, interfaces and thin layers.,51.39 materials testing, properties of materials: other.,Durchstrahlungselektronenmikroskopie,Durchstrahlungselektronenmikroskopie.,Física moderna.,Nanostruktur,Nanostruktur.,Semiconductors-- Analysis.,Transmission electron microscopy.,Verbindungshalbleiter,Verbindungshalbleiter.
رده :
QD139
.
S34
R67
2003
5. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state
پدیدآورنده : Rosenauer, Andreas, 4691-
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Analysis ، Semiconductors,Microscopy ، Semiconductors,، Transmission electron microscopy
رده :
QD
139
.
S34R6
6. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures :an analysis of composition and strain state]CD[
پدیدآورنده : Rosenauer, Andreas,Andreas Rosenauer
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع : Analysis ، Semiconductors,Microscopy ، Semiconductors,، Transmission electron microscopy
رده :
CD
1747-49